■セミナー概要
様々な産業でＤＸが進む中で、ＡＩなどのデジタル技術を用いたデータ解析が広く行われています。
本セミナーでは、課題解決のためのデータ解析手法として逆解析を取り上げます。逆解析の利用によって得られるメリットに着目し、①目標の出力値になるようなモデルの入力値を探索する、②センサのデータから異常の原因を推定する、③構造体の測定データから内部の構造や状態を推定する、などの技術観点で最新の特許情報から注目すべき技術動向を紹介します。
新規技術開発を推進する研究開発部門、新事業企画部門、知財部門の皆さまに最適なセミナーです。ご参加お待ちしております。
■こんな方におススメ
・事業部門、研究開発部門の責任者・マネージャーの方
・新規事業創造、研究開発を推進する役割の方
・特許情報をもっと活用したいと考えている知財部門の方
■登壇者
広川 正彦（株式会社ネオテクノロジー 技術アドバイザ）
総合電子部品メーカでスイッチング電源回路の設計・研究開発に従事。ICの開発や国内外の産学官連携を経験。ネオテクノロジーの技術アドバイザとして、様々な特許技術動向調査に携わっています。R&D経験を生かした目利き力で注目発明を抽出し、具体例で逆解析について俯瞰します。
■セミナー日程
日 時：2025年03月27日(木) 11:00～11:30
形 態：オンライン視聴（ZOOM） 受講料無料
■セミナーお申込み
下記よりお申し込みください。お申込み後、セミナー前日までに視聴用URL発行のメールをお送りします。もしメールが届かない場合は「toiawase@neotechnolgy.co.jp」にご連絡くださいますようお願いします。
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